Generic degradation mechanism for 980 nm InxGa1-xAs/GaAs strained quantum-well lasers

Applied Physics Letters

Volumn 78, Issue 21, 2001, Pages 3166-3168

  Chu, S N G ^a   Chand, N ^a   Joyce, W B ^a   Parayanthal, P ^b   Wilt, D P ^b  

^a LUCENT TECHNOLOGIES   (United States)

^b NOKIA RESEARCH CENTER   (United States)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

EID: 0035927130     PISSN: 00036951     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.1371967     Document Type: Article

References (20)

1. N. Chand, S. N. G. Chu, N. K. Dutta, J. Lopata, M. Geva, A. V. Syrbu, A. Z. Mereutza, and V. P. Yakovlev, IEEE J. Quantum Electron. 30, 424 (1994).
2. Y. K. Chen, M. C. Wu, W. S. Hobson, S. J. Pearton, A. M. Sergent, and M. A. Chin, IEEE Photonics Technol. Lett. 3, 406 (1991).
3. J. S. Major, Jr., L. J. Guido, K. C. Hsieh, N. Holonyak, Jr., W. Stutius, P. Gavrilovic, and J. E. Williams, Appl. Phys. Lett. 54, 913 (1989).
4. K. J. Beernink, P. K. York, J. J. Coleman, R. G. Waters, J. Kim, and C. M. Wayman, Appl. Phys. Lett. 55, 2167 (1989).
5. A. Larsson, J. Cody, S. Forouhar, and R. J. Lang, Appl. Phys. Lett. 56, 1731 (1990).
6. T. R. Chen, L. Eng, B. Zhao, Y. H. Zhuang, S. Sanders, H. Morkoc, and A. Yariv, IEEE J. Quantum Electron. 26, 1183 (1990).
7. B. Elman, E. S. Koteles, P. Melman, C. Jagannath, C. A. Armiento, and M. Rothman, J. Appl. Phys. 68, 1351 (1990).
8. W. X. Zou, J. L. Merz, R. J. Fu, and C. S. Hong, IEEE Photonics Technol. Lett. 3, 400 (1991).
9. A. Moser, A. Oosenbrug, E. E. Latta, Th. Foster, and M. Gasser, Appl. Phys. Lett. 59, 2642 (1991).
10. M. Ohkubo, T. Ijichi, A. Iketani, and T. Kikuta, IEEE J. Quantum Electron. 30, 408 (1994).
11. M. Fukuda, M. Okayasu, J. Temmyo, and J. Nakano, IEEE J. Quantum Electron. 30, 471 (1994).
12. M. Okayasu, M. Fukuda, T. Takeshita, S. Uehara, and K. Kurumada, J. Appl. Phys. 69, 8346 (1991).
13. M. Okayasu and M. Fukuda, J. Appl. Phys, 72, 2119 (1992).
14. M. Fukuda, Reliability and Degradation of Semiconductor Lasers and LEDs. (Artech House, Boston, MA, 1991).
15. S. N. G. Chu, S. Nakahara, M. E. Twigg, L. A. Koszi, E. J. Flynn, A. K. Chin, B. P. Segner, and W. D. Johnston, Jr., J. Appl. Phys. 63, 611 (1988).
16. S. N. G. Chu, MRS Bull. 18, 43 (1993).
17. O. Ueda, Reliability and Degradation of III-V Optical Devices (Artech House, Boston, MA, 1996).
18. S. N. G. Chu (unpublished).
19. W. B. Joyce and R. W. Dixon, J. Appl. Phys. 46, 855 (1975).
20. S. N. G. Chu, R. A. Logan, and W. T. Tsang, J. Appl. Phys. 79, 1397 (1996).