Spectral narrowing of photoluminescence and improvement of electroluminescent properties in conducting polymers with Si atoms in main chains

Journal of Applied Physics

Volumn 90, Issue 12, 2001, Pages 6061-6065

  Yoshida, Y ^a   Nishihara, Y ^a   Ootake, R ^a   Fujii, A ^a   Ozaki, M ^a   Yoshino, K ^a   Kim, H K ^b   Baek, N S ^b   Choi, S K ^c  

^a OSAKA UNIVERSITY   (Japan)

^b Hannam University   (South Korea)

^c Korea Advanced Institute of Science and Technology (KAIST)   (South Korea)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

EID: 0035894107     PISSN: 00218979     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.1416863     Document Type: Article

References (26)

1. K. Yoshino, M. Onoda, and T. Kawai, Optoelectronics 5, 1 (1990).
2. Y. Ohmori, M. Uchida, K. Muro, and K. Yoshino, Jpn. J. Appl. Phys., Part 2 30, L1938 (1991).
3. M. Fukuda, K. Sawada, and K. Yoshino, Jpn. J. Appl. Phys., Part 2 28, L1433 (1989).
4. Y. Ohmori, M. Uchida, K. Muro, and K. Yoshino, Jpn. J. Appl. Phys., Part 2 30, L1433 (1991).
5. M. Hamaguchi, H. Sawada, J. Kyokane, and K. Yoshino, Chem. Lett. 527 (1996).
6. M. Hamaguchi and K. Yoshino, Jpn. J. Appl. Phys., Part 2 33, L1478 (1994).
7. M. Hamaguchi and K. Yoshino, Jpn. J. Appl. Phys., Part 2 34, L712 (1995).
8. M. Hirohata, K. Tada, R. Hidayat, T. Masuda, and K. Yoshino, Jpn. J. Appl. Phys., Part 2 36, L302 (1997).
9. K. Yoshino, K. Hosoda, A. Fujii, and M. Ishikawa, Jpn. J. Appl. Phys., Part 2 36, L368 (1997).
10. K. Yoshino, A. Fujii, H. Nakayama, S. Lee, A. Naka, and M. Ishikawa, J. Appl. Phys. 85, 414 (1999).
11. K.-D. Kim, J.-S. Park, H. K. Kim, T. B. Lee, and K. T. No, Macromolecules 31, 7267 (1998).
12. S.-H. Jung and H. K. Kim, J. Lumin. 87-89, 51 (2000).
13. M. N. Shkunov, R. Österbacka, A. Fujii, K. Yoshino, and Z. V. Vardeny, Appl. Phys. Lett. 74, 1648 (1999).
14. A. Fujii et al., Appl. Phys. Lett. 77, 660 (2000).
15. R. Hidayat, S. Tatsuhara, D. W. Kim, M. Ozaki, K. Yoshino, M. Teraguchi, and T. Masuda, Phys. Rev. B 61, 10167 (2000).
16. S. V. Frolov, W. Gellermann, M. Ozaki, K. Yoshino, and Z. V. Vardeny, Phys. Rev. Lett. 78, 729 (1997).
17. S. V. Frolov, M. Shkunov, Z. V. Vardeny, K. Tada, R. Hidayat, M. Hirohata, M. Teraguchi, T. Masuda, and K. Yoshino, Jpn. J. Appl. Phys., Part 2 36, L1268 (1997).
18. G. Decher, J. D. Hong, and J. Schmitt, Thin Solid Films 210/211, 831 (1992).
19. M. Ferreira, J. H. Cheung, and M. F. Rubner, Thin Solid Films 244, 806 (1994).
20. T. Sonoda, T. Fujisawa, A. Fujii, and K. Yoshino, Appl. Phys. Lett. 76, 3227 (2000).
21. A. R. Schlatmann, D. F. Floet, A. Hilberer, F. Garten, P. J. M. Smulders, T. M. Klapwijk, and G. Hadziioannou, Appl. Phys. Lett. 69, 1764 (1996).
22. T. P. Nguyen, S. de Vos, and V. H. Tran, J. Appl. Phys. 81, 6809 (1997).
23. S. T. Lee, Z. Q. Gao, and L. S. Hung, Appl. Phys. Lett. 75, 1404 (1999).
24. S. A. Van Slyke, C. H. Chen, and C. W. Tang, Appl. Phys. Lett. 69, 2160 (1996).
25. J. Birgerson, M. Fahlman, P. Bröms, and W. R. Salaneck, Synth. Met. 80, 125 (1996).
26. T.-W. Lee and O. O. Park, Adv. Mater. 12, 801 (2000).