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Volumn 89, Issue 12, 2001, Pages 8101-8104

Comparison of dielectric dispersion of Al2O3 and Se thin films

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EID: 0035875282     PISSN: 00218979     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.1372161     Document Type: Article
Times cited : (4)

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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.