Symmetry-selective observation of the N 1s shape resonance in N2

Journal of Physical Chemistry A

Volumn 105, Issue 23, 2001, Pages 5704-5708

  Hergenhahn, U ^a,b   Kugeler, O ^a,b   Rudel A ^a   Rennie, E E ^a,b   Bradshaw, A M ^b  

^a FRITZ HABER INSTITUT DER MAX PLANCK GESELLSCHAFT   (Germany)

^b MAX PLANCK INSTITUT FÜR PLASMAPHYSIK   (Germany)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

ELECTRONS; ETHYLENE; PHOTOELECTRON SPECTROSCOPY; RESONANCE; X RAY SCATTERING;

CONTINUUM RESONANCE;

NITROGEN COMPOUNDS;

EID: 0035859451     PISSN: 10895639     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1021/jp0038456     Document Type: Article

References (42)

1. Sette, F.; Stöhr, J.; Hitchcock, A. P. J. Chem. Phys. 1984, 81, 4906-4914.
2. Nenner, I.; Morin P. In VUV and soft X-ray photoionization studies; Plenum Press: New York, 1996.
3. Sheehy, J. A.; Gil, T. J.; Winstead, C. L.; Farren, R. E.; Langhoff, P. W. J. Chem. Phys. 1989, 91, 1796-1812.
4. Dehmer, J. L.; Dill, D. Phys. Rev. Lett. 1975, 35, 213-215.
5. Dehmer, J. L.; Dill, D. J. Chem. Phys. 1976, 65, 5327-5334.
6. Loomba, D.; Wallace, S.; Dill, D.; Dehmer, J. L. J. Chem. Phys. 1981, 75, 4546-4552.
7. Chen, C. T.; Ma, Y.; Sette, F. Phys. Rev. A 1989, 40, R6737-R6740.
8. Kempgens, B.; Kivimäki, A.; Neeb, M.; Köppe, H. M.; Bradshaw, A. M.; Feldhaus, J. J. Phys. B 1996, 29, 5389-5402.
9. Lindle, D. W.; Truesdale, C. M.; Kobrin, P. H.; Ferrett, T. A.; Heimann, P. A.; Becker, U.; Kerkhoff, H. G.; Shirley, D. A. J. Chem. Phys. 1984, 81, 5375-5378.
10. Rescigno, T. N.; Langhoff, P. W. Chem. Phys. Lett. 1977, 51, 65-70.
11. Lynch, D. L.; McKoy, V. Phys. Rev. A 1984, 30, R1561-1564.
12. Wilhelmy, I.; Rösch, N. Chem. Phys. 1994, 185, 317-332.
13. Lee, K.; Kim, D. Y.; Ma, C. I.; Lapiano-Smith, D. A.; Hanson, D. M. J. Chem. Phys. 1990, 93, 7936-7945.
14. Shigemasa, E.; Ueda, K.; Sato, Y.; Sasaki, T.; Yagishita, A. Phys. Rev. A 1992, 45, 2915-2921.
15. Shigemasa, E.; Adachi, J.; Oura, M.; Yagishita, A. Phys. Rev. Lett. 1995, 74, 359-362.
16. Pavlychev, A. A.; Fominykh, N. G.; Watanabe, N.; Soejima, K.; Shigemasa, E.; Yagishita, A. Phys. Rev. Lett. 1998, 81, 3623-3626.
17. Glans, P.; Gunnelin, K.; Skytt, P.; Guo, J.-H.; Wassdahl, N.; Nordgren, J.; Ågren, H.; Gel'mukhanov, F. K.; Warwick, T.; Rotenberg, E. Phys. Rev. Lett. 1996, 76, 2448-2251.
18. Cherepkov, N. A.; Semenov, S. K.; Hikosaka, Y.; Ito, K.; Motoki, S.; Yagishita, A. Phys. Rev. Lett. 2000, 84, 250-253.
19. Lin, P.; Lucchese, R. R. J. Synch. Radiat. 2001, 8, 150-153.
20. Glans, P.; Skytt, P.; Gunnelin, K.; Guo, J.-H.; Nordgren, J. J. Electron Spectrosc. Relat. Phenom. 1996, 82, 193-201.
21. Gel'mukhanov, F.; Ågren, H. J. Phys. B 1996, 29, 2751-2762.
22. Kempgens, B.; Köppel, H.; Kivimäki, A.; Neeb, M.; Cederbaum, L. S.; Bradshaw, A. M. Phys. Rev. Lett. 1997, 79, 3617-20.
23. Thomas, T. D.; Berrah, N.; Bozek, J.; Carroll, T. X.; Hahne, J.; Karlsen, T.; Kukk, E.; Sæthre, L. J. Phys. Rev. Lett. 1999, 82, 1120-1123.
24. Petersen, H.; Senf, F.; Schäfers, F.; Bahrdt, J. Rev. Sci. Instrum. 1995, 66, 1777-1779.
25. Senf, F.; Eggenstein, F.; Follath, R.; Hartlaub, S.; Lammert, H.; Noll, T.; Schmidt, J. S.; Reichardt, G.; Schwarzkopf, O.; Weiss, M.; Zeschke, T.; Gudat, W. Nucl. Instrum. Methods A 2001, to be published.
26. Prince, K. C.; Vondrácek, M.; Karvonen, J.; Coreno, M.; Camilloni, R.; Avaldi, L.; Simone, M. d. J. Electron Spectrosc. Relat. Phenom. 1999, 101-103, 141-147.
27. Mårtensson, N.; Baltzer, P.; Brühwiler, P. A.; Forsell, J.-O.; Nilsson, A.; Stenborg, A.; Wannberg, B. J. Electron Spectrosc. Relat. Phenom. 1994, 70, 117-128.
28. Baltzer, P.; Karlsson, L.; Lundqvist, M.; Wannberg, B. Rev. Sci. Instrum. 1993, 64, 2179-89.
29. Kuchiev, M. Y.; Sheinerman, S. A. Soviet Physics - JETP 1986, 63, 986-990.
30. Armen, G. B.; Tulkki, J.; Aberg, T.; Crasemann, B. Phys. Rev. A 1987, 36, 5606-5614.
31. Straten, P. v. d.; Morgenstern, R.; Niehaus, A. Z. Phys. D 1988, 8, 35-45.
32. Leclerc, G.; Pireaux, J. J. J. Electron Spectrosc. Relat. Phenom. 1995, 71, 141-164.
33. Cederbaum, L. S.; Domcke, W. J. Chem. Phys. 1976, 64, 603-611.
34. Carroll, T. X.; Hahne, J.; Thomas, T. D.; Sæthre, L. J.; Berrah, N.; Bozek, J.; Kukk, E. Phys. Rev. A 2000, 61, 042503.
35. Cumpson, P. J.; Seah, M. P. Surf. Interface Anal. 1992, 18, 345-360.
36. Semenov, S. K.; Cherepkov, N. A., private communication.
37. Neeb, M.; Kivimäki, A.; Kempgens, B.; Köppe, H. M.; Feldhaus, J.; Bradshaw, A. M. Phys. Rev. Lett. 1996, 76, 2250-2253.
38. Neeb, M.; Kivimäki, A.; Kempgens, B.; Köppe, H. M.; Maier, K.; Bradshaw, A. M.; Kosugi, N. Chem. Phys. Lett. 2000, 320, 217-221.
39. Kempgens, B.; Köppe, H. M.; Kivimäki, A.; Neeb, M.; Maier, K.; Hergenhahn, U.; Bradshaw, A. M. Phys. Rev. Lett. 1997, 79, 35-38.
40. Lin, P.; Lucchese, R. R. J. Chem. Phys. 2000, 113, 1843-1851.
41. Kempgens, B.; Kivimäki, A.; Köppe, H. M.; Neeb, M.; Bradshaw, A. M.; Feldhaus, J. J. Chem. Phys. 1997, 107, 4219-4224.
42. Rennie, E. E.; Kempgens, B.; Köppe, H. M.; Hergenhahn, U.; Feldhaus, J.; Itchkawitz, B. S.; Kilcoyne, A. L. D.; Kivimäki, A.; Maier, K.; Piancastelli, M. N.; Polcik, M.; Rüdel, A.; Bradshaw, A. M. J. Chem. Phys. 2000, 113, 7362-7375.