Soft phonon modes in Ba0.5Sr0.5TiO3 thin films studied by Raman spectroscopy

Applied Physics Letters

Volumn 79, Issue 23, 2001, Pages 3836-3838

  Tenne, D A ^a,b   Clark, A M ^a   James, A R ^a   Chen, K ^a   Xi, X X ^a  

^a PENNSYLVANIA STATE UNIVERSITY   (United States)

^b INSTITUTE OF SEMICONDUCTOR PHYSICS   (Russian Federation)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

EID: 0035803203     PISSN: 00036951     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.1424463     Document Type: Article

References (25)

1. S. K. Streiffer, C. Basceri, C. B. Parker, S. E. Lash, and A. I. Kingon, J. Appl. Phys. 86, 4565 (1999).
2. H. Li, A. L. Roytburd, S. P. Alpay, T. D. Tran, L. Salamanca-Riba, and R. Ramesh, Appl. Phys. Lett. 78, 2354 (2001).
3. W. Chang, C. M. Gilmore, W.-J. Kim, J. M. Pond, S. W. Kirchoefer, S. B. Qadri, D. B. Chirsey, and J. S. Horwitz, J. Appl. Phys. 87, 3044 (2000).
4. C. M. Carlson, P. A. Parilla, T. V. Rivkin, J. D. Perkins, and D. S. Ginley, Appl. Phys. Lett. 77, 3278 (2000).
5. P. Padmini, T. R. Taylor, M. J. Lefevre, A. S. Nagra, R. A. York, and J. S. Speck, Appl. Phys. Lett. 75, 3186 (1999).
6. Y. Gim, T. Hudson, Y. Fan, C. Kwon, A. T. Findikoglu, B. S. Gibbons, B. H. Park, and Q. X. Jia, Appl. Phys. Lett. 77, 1200 (2000).
7. W. Cochran, Adv. Phys. 9, 387 (1960).
8. V. I. Merkulov, J. R. Fox, H.-C. Li, W. Si, A. A. Sirenko, and X. X. Xi, Appl. Phys. Lett. 72, 3291 (1998).
9. A. A. Sirenko, I. A. Akimov, J. R. Fox, A. M. Clark, Hong-Cheng Li, Weidong Si, and X. X. Xi, Phys. Rev. Lett. 82, 4500 (1999).
10. I. A. Akimov, A. A. Sirenko, A. M. Clark, J.-H. Hao, and X. X. Xi, Phys. Rev. Lett. 84, 4625 (2000).
11. M. DiDomenico, Jr., S. P. S. Porto, and S. H. Wemple, Phys. Rev. Lett. 19, 855 (1967); M. DiDomenico, Jr., S. H. Wemple, S. P. S. Porto, and R. P. Bauman, Phys. Rev. 174, 522 (1968).
12. M. DiDomenico, Jr., S. P. S. Porto, and S. H. Wemple, Phys. Rev. Lett. 19, 855 (1967); M. DiDomenico, Jr., S. H. Wemple, S. P. S. Porto, and R. P. Bauman, Phys. Rev. 174, 522 (1968).
13. A. Scalabrin, A. S. Chaves, D. S. Shim, and S. P. S. Porto, Phys. Status Solidi B 79, 731 (1977).
14. G. Burns and F. H. Dacol, Phys. Rev. B 18, 5750 (1978).
15. H. Vogt, J. A. Sanjurjo, and G. Rossbroich, Phys. Rev. B 26, 5904 (1982); H. Presting, J. A. Sanjurjo, and H. Vogt, ibid. 28, 6097 (1983).
16. H. Vogt, J. A. Sanjurjo, and G. Rossbroich, Phys. Rev. B 26, 5904 (1982); H. Presting, J. A. Sanjurjo, and H. Vogt, ibid. 28, 6097 (1983).
17. J. D. Freire and R. S. Katyar, Phys. Rev. B 37, 2074 (1988).
18. V. V. Lemanov, Phys. Solid State 39, 318 (1997).
19. D. Kirillov, Y. Suzuki, L. Antognazza, K. Char, I. Bozovic, and T. H. Geballe, Phys. Rev. B 51, 12825 (1995).
20. O. G. Vendik and S. P. Zubko, J. Appl. Phys. 88, 5343 (2000).
21. V. V. Lemanov, E. P. Smirnova, P. P. Syrnikov, and E. A. Tarakanov, Phys. Rev. B 54, 3151 (1996).
22. O. Tikhomirov, H. Jiang, and J. Levy, Appl. Phys. Lett. 77, 2048 (2000).
23. N. A. Pertsev, A. G. Zembilgotov, and A. K. Tagantsev, Phys. Rev. Lett. 80, 1988 (1998).
24. S. Li, J. A. Eastman, R. E. Newnham, and L. E. Cross, Phys. Rev. B 55, 12067 (1997).
25. J. C. Jiang and X. Q. Pan, J. Appl. Phys. 89, 6365 (2001).