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IEEE International Symposium on Electromagnetic Compatibility
Volumn 2, Issue , 2001, Pages 1015-1020
UWB and EMP susceptibility of modern electronics
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ELECTRONIC EQUIPMENT; IRRADIATION; MICROCONTROLLERS; MICROPROCESSOR CHIPS; REFLECTOMETERS;
EID: 0035785613     PISSN: 01901494     EISSN: None     Source Type: Conference Proceeding    
DOI: None     Document Type: Conference Paper
Times cited : (64)
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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.