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Volumn 23, Issue 4, 2001, Pages 393-401

Residual stresses in micro-electro-mechanical systems

Author keywords

Adhesion; Buckling; Micro electro mechanical system; Residual stresses; Resonant frequency; Thin films

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EID: 0035699708     PISSN: 10019669     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: None     Document Type: Article
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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.