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Volumn 46, Issue 4, 2001, Pages 490-491

Anomalous behavior of arsenic ions implanted into silicon at 85o°C

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EID: 0035531396     PISSN: 10637842     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1134/1.1365477     Document Type: Article
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References (5)


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.