Characterisation of soft condensed matter and delicate materials using environmental scanning electron microscopy (ESEM)

Advanced Engineering Materials

Volumn 3, Issue 3, 2001, Pages 126-130

  Stokes, Debbie J ^a  

^a UNIVERSITY OF CAMBRIDGE   (United Kingdom)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

EID: 0035530157     PISSN: 14381656     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1002/1527-2648(200103)3:3<126::AID-ADEM126>3.0.CO;2-B     Document Type: Article

References (15)

1. G. D. Danilatos, Adv. Electron. Electron Phys. 1988, 72, 109.
2. A. Howie, J. Microsc., 1995, 180, Part 3, 192.
3. B. L. Thiel, I. C. Bache, A. L. Fletcher, P. Meredith, A. M. Donald, J. Microsc., 1997, 187, Part 3, 143.
4. A. L. Fletcher, B. L. Thiel, A. M. Donald, J. Phys. D: Appl. Phys. 1997, 30, 2249.
5. R. E. Cameron, A. M. Donald, J. Microsc. 1994, 173, Part 3, 227.
6. S. Kitching, A. M. Donald, J. Microsc. 1998, 190, 357.
7. R. G. Mathews, D. J. Stokes, A. M. Donald, Microsc. Microanal. 2000, 6, Supplement 2, 778.
8. D. J. Stokes, B. L. Thiel, A. M. Donald, Langmuir 1998, 14, 4402.
9. D. J. Stokes, B. L. Thiel, A. M. Donald, Scanning, in press.
10. A. M. Donald, C. He, C. P. Royall, M. Sferrazza, N. A. Stelmashenko, B. L. Thiel, Colloids Surf. A 2000, 174, 37.
11. B. L. Thiel, A. M. Donald, J. Mol. Liq. 1999, 80, 207.
12. J. P. Craven, N. A. Stelmashenko, E. M. Terentjev, B. L. Thiel, Microsc. Microanal. 2000, 6, Supplement 2, 780.
13. L. M. Jenkins, A. M. Donald, Langmuir 1999, 15, 7829.
14. B. L. Thiel, A. M. Donald, Ann. Botany 1998, 82, 727.
15. D. J. Stokes, A. M. Donald, J. Mater. Sci. 2000, 35, 599.