Polarized-photoreflectance characterization of an InGaP/InGaAsN/GaAs NpN double-heterojunction bipolar transistor structure

Journal of Applied Physics

Volumn 90, Issue 9, 2001, Pages 4565-4569

  Lin, C J ^a   Huang, Y S ^a   Li, N Y ^b,c   Li, P W ^d   Tiong, K K ^e  

^a NATIONAL TAIWAN UNIVERSITY OF SCIENCE AND TECHNOLOGY   (Taiwan)

^b Emcore Photovoltaics   (United States)

^c Kingmax Optoelectronics Inc   (Taiwan)

^d NATIONAL CENTRAL UNIVERSITY   (Taiwan)

^e NATIONAL TAIWAN OCEAN UNIVERSITY   (Taiwan)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

EID: 0035504384     PISSN: 00218979     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.1405823     Document Type: Article

References (26)

1. S. Sakai, T. Ueta, and Y. Terauchi, Jpn. J. Appl. Phys., Part 1 32, 4413 (1993).
2. M. Kondow, K. Uomi, A. Niwa, T. Kitatani, S. Watahiki, and Y. Kazawa, Jpn. J. Appl. Phys., Part 1 35, 1273 (1996).
3. X. Yang, J. B. Heroux, M. J. Jurkovic, and W. I. Wang, Appl. Phys. Lett. 76, 1051 (2000).
4. N. Y. Li, C. P. Hains, K. Yang, J. Lu, J. Cheng, and P. W. Li, Appl. Phys. Lett. 75, 1051 (1999).
5. S. R. Kurtz, A. A. Allerman, E. D. Jones, J. M. Gee, J. J. Banas, and B. E. Mammons, Appl. Phys. Lett. 74, 729 (1999).
6. H. Ito, S. Yamahata, N. Shigekawa, and K. Kurishima, Jpn. J. Appl. Phys., Part 1 35, 6139 (1997).
7. P. C. Chang, A. G. Baca, N. Y. Li, X. M. Xie, H. Q. Hou, and E. Armour, Appl. Phys. Lett. 76, 2262 (2000).
8. F. H. Pollak and H. Shen, Mater. Sci. Eng., R. 10. 275 (1993).
9. D. Y. Lin, S. H. Liang, Y. S. Huang, K. K. Tiong, F. H. Pollak, and K. R. Evans, J. Appl. Phys. 85, 8235 (1999).
10. Y. S. Huang, W. D. Sun, L. Malikova, F. H. Pollak, T. S. Low, and J. S. C. Chang, Appl. Phys. Lett. 73, 1215 (1998).
11. Y. S. Huang, W. D. Sun, F. H. Pollak, J. L. Freeouf, I. D. Calder, and R. E. Mallard, Appl. Phys. Lett. 73, 214 (1998).
12. Silvaco Data Systems, Santa Clara, CA.
13. H. Shen and F. H. Pollak, Phys. Rev. B 42, 7097 (1990).
14. S. H. Wei and A. Zunger, Phys. Rev. B 57, 8983 (1998).
15. E. Greger, K. H. Gulden, M. Moser, G. Schmiedel, P. Kiesel, and G. H. Döhler, Appl. Phys. Lett. 70, 1459 (1997).
16. P. Ernst, C. Geng, F. Scholz, H. Schweizer, Y. Zhang, and A. Mascarenhas, Appl. Phys. Lett. 67, 2347 (1995).
17. R. G. Alonso, A. Mascarenhas, G. S. Horner, K. A. Bertness, S. R. Kurtz, and J. M. Olsen, Phys. Rev. B 48, 11833 (1993).
18. Numerical Data and Functional Relationships in Science and Technology, edited by O. Madelung and M. Schulz, Landolt-Bornstein, New Series, Group III, (Springer, New York, 1987), Vol. 22a.
19. A. Lindell, M. Pessa, A. Salokalve, F. Bernardini, R. M. Nieminen, and M. Paalanen, J. Appl. Phys. 82, 3374 (1997).
20. D. Yan, F. H. Pollak, V. T. Boccio, C. L. Lin, P. D. Kirchner, J. M. Woodall, R. C. Gee, and P. M. Asbeck, Appl. Phys. Lett. 61, 2066 (1992).
21. H. C. Kuo, J. M. Kuo, Y. C. Wang, C. H. Lin, and G. E. Stillman, J. Electron. Mater. 26, 944 (1997).
22. E. D. Palik, in Handbook of Optical Constants of Solids, edited by E. D. Palik (Academic, New York, 1985), p. 429.
23. M. Schubert, V. Gottschalch, C. M. Herzinger, H. Yao, P. G. Snyder, and J. A. Woollam, J. Appl. Phys. 77, 3416 (1995).
24. S. Froyen, A. Zunger, and A. Mascarenhas, Appl. Phys. Lett. 68, 2852 (1996).
25. Y. S. Huang, W. D. Sun, F. H. Pollak, J. L. Freeouf, I. D. Calder, and R. E. Mallard, in Proceedings of the 24th International Conference on the Physics of Semiconductors, Jerusalem, 1998, edited by D. Gershoni (World Scientific, Singapore, 1998), p. 1247.
26. F. H. Pollak, Proc. SPIE 3944, 92 (2000).