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Volumn 90, Issue 3, 2001, Pages 1237-1241

Grazing incidence x-ray scattering study of the structure of epitaxial Cr/Sn multilayers

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EID: 0035425378     PISSN: 00218979     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.1379776     Document Type: Article
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References (9)


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.