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Volumn 30, Issue 4, 2001, Pages 468-

Structural properties and static optical recording performance of TeOx thin films using short wavelength laser

(3)  Li, Q H a   Gu, D H a   Gan, F X a  

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EID: 0035299546     PISSN: 10044213     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: None     Document Type: Article
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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.