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Volumn 8, Issue 2, 2001, Pages 493-495

EXAFS study of NiAl in thin films

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Ni EXAFS; Ni Al multilayer; Ni Al thin films

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EID: 0035288825     PISSN: 09090495     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1107/S0909049500016642     Document Type: Article
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References (14)


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.