Site-specific fragmentation following C:1S core-level photoionization of 1,1,1-trifluoroethane condensed on a Au surface and of a 2,2,2-trifluoroethanoi monolayer chemisorbed on a Si(100) surface

Journal of Physical Chemistry B

Volumn 105, Issue 8, 2001, Pages 1554-1561

  Nagaoka, Shin Ichi ^a,d   Tanaka, Shin Ichiro ^b   Mase, Kazuhiko ^c  

^a INSTITUTE FOR MOLECULAR SCIENCE   (Japan)

^b NAGOYA UNIVERSITY   (Japan)

^c INSTITUTE OF MATERIALS STRUCTURE SCIENCE   (Japan)

^d HIROSHIMA UNIVERSITY   (Japan)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

AUGER ELECTRON SPECTROSCOPY; CHEMISORPTION; CONDENSATION; GOLD; MOLECULAR STRUCTURE; MONOLAYERS; PHOTOELECTRON SPECTROSCOPY; PHOTOIONIZATION; SEMICONDUCTING SILICON; SUBSTITUTION REACTIONS; SURFACE STRUCTURE;

AUGER ELECTRON PHOTOION COINCIDENCE; ENERGY SELECTED PHOTOELECTRON PHOTOION COINCIDENCE; SITE SPECIFIC FRAGMENTATION; TRIFLUOROETHANE; TRIFLUOROETHANOL;

FLUORINE COMPOUNDS;

EID: 0035281127     PISSN: 15206106     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1021/jp002994l     Document Type: Article

References (63)

1. Eberhardt, W.; Sham, T. K.; Carr, R.; Krummacher, S.; Strongin, M.; Weng, S. L.; Wesner, D. Phys. Rev. Lett. 1983, 50, 1038.
2. Müller-Dethlefs, K.; Sander, M.; Chewter, L, A.; Schlag, E. W. J. Phys. Chem. 1984, 88, 6098.
3. Murakami, J.; Nelson, M. C; Andersen, S. L.; Hanson, D. M. J. Chem. Phys. 1986, 85, 5755.
4. Habenicht, W.; Chewter, L. A.; Sander, M.; Müller-Dethlefs, K.; Schlag, E. W. J. Phys. Colloq. 1987, 48, 741.
5. Murphy, R.; Eberhardi, W. J. Chem. Phys. 1988, 89, 4054.
6. Habenicht, W.; Baiter, H.; Müller-Dethlefs, K.; Schlag, E. W. Phys. Scr. 1990,47,814.
7. Jung, R.; Staub, R.; Baiter, H.; Reiser, G.; Habenicht, W.; Müller-Dethlefs, K. Ber. Bunsen-Ges. Phys. Chem. 1990, 94, 1318.
8. Hanson, D. M. Adv. Chem. Phys. 1990, 77, 1.
9. Hanson, D. M.; Ma, C. L; Lee, K.; Lapiano-Smith, D.; Kim, D. Y. J. Chem. Phys. 1990, 93, 9200.
10. Habenicht, W.; Baiter, H.; Müller-Dethlefs, K.; Schlag, E. W. J. Phys. Chem. 1991, 95, 6774.
11. Salman, L; Silberstein, J.; Levine, R. D. J. Phys. Chem. 1991, 95, 6781.
12. Boesl, U.; Grotemeyer, J.; Müller-Dethlefs, K.; Neusser, H. J.; Selzle, H. L.; Schlag, E. W. Int: J. Mass Spectrom. Ion Processes 1992, 118/119, 191.
13. LeBrun, T.; Lavollée, M.; Simon, M.; Morin, P. J. Chem. Phys. 1993, 98, 2534.
14. Ueno, N.; Komada, M.; Morimoto, Y.; Tinone, M. C. K.; Kushida, M.; Sugita, K.; Honma, K.; Tanaka, K. Jpn. J. Appl. Phys., Suppl. 1993, 32, 229.
15. Tinone, M. C. K.; Tanaka, K.; Maruyama, J.; Ueno, N.; Imamura, M.; Matsubayashi, N. J. Chem. Phys. 1994, 700, 5988.
16. Tinone, M. C. K.; Sekitani, T.; Tanaka, K.; Maruyama, J.; Ueno, N. Appl. Surf. Sei. 1994, 79/50, 89.
17. Tanaka, K.; Tinone, M. C. K.; Ikeura, H.; Sekiguchi, T.; Sekitani, T. Rev. Sei. Instntm. 1995, 66, 1474.
18. Ferrand-Tanaka, L.; Simon, M.; Thissen, R.; Lavollée, M.; Morin, P. Rev. Sei. Instrum. 1995, 66, 1587.
19. Nagaoka, S.; Ohshita, J.; Ishikawa, M.; Takano, K.; Nagashima, U.; Takeuchi, T.; Koyano, I. J. Chem. Phys. 1995, 702, 6078.
20. Ferrand-Tanaka, L.; Simon, M.; Thissen, R.; Lavollée, M.; Morin, P. Rev. Sei. Instrum. 1996, 67, 358.
21. Ueno, N.; Tanaka, K. J. Jpn. Soc. Synchrotron Radiat. Res. 1996, 9,29.
22. Ueno, N.; Kamiya, K.; Harada, Y.; Tinone, M. C. K.; Sekitani, T.; Tanaka, K. Optoelectronics 1996, 11, 91.
23. Tinone, M. C. K.; Ueno, N.; Maruyama, J.; Kamiya, K.; Harada, Y.; Sekitani, T.; Tanaka, K. J. Electron Spectrosc. Relat. Phenom. 1996, 50, 117.
24. .Nenner, L; Reynaud, C.; Schmelz, H. C.; Ferrand-Tanaka, L.; Simon, M.; Morin, P. Z. Phys. Chem. 1996, 795, 43.
25. Mase, K.; Nagasono, M.; Tanaka, S.; Nagaoka, S. J. Jpn. Soc. Synchrotron Radiat. Res. 1997, 70, 375.
26. Ueno, N.; Tanaka, K. Jpn. J. Appl. Phys. 1997, 36, 7605.
27. Nagaoka, S.; Mase, K.; Nagasono, M.; Tanaka, S.; Urisu, T.; Ohshita, J. J. Chem. Phys. 1997, 707, 10751.
28. Nagaoka, S.; Fujibuchi, T.; Ohshita, J.; Ishikawa, M.; Koyano, I. Int. J. Mass Spectrom. Ion Processes 1997, 777, 95.
29. Nagaoka, S.; Mase, K.; Koyano, I. Trends Chem. Phys. 1997,6, 1.
30. Morin, P.; Simon, M.; Miron, C.; Leclercq, N.; Hansen, D. L. J. Electron Spectrosc. Relat. Phenom. 1998, 93, 49.
31. Chen, S.-Y.; Ma, C.-I.; Hanson, D. M.; Lee, K.; Kim, D. Y. J. Electron Spectrosc. Relat. Phenom. 1998, 93, 61.
32. Nagaoka, S.; Mase, K.; Nagasono, M.; Tanaka, S.; Urisu, T.; Ohshita, J.; Nagashima, U. Chem. Phys. 1999, 249, 15.
33. Romberg, R.; Heckmair, N.; Frigo, S. P.; Ogurtsov, A.; Menzel, D.; Feulner, P. Phys. Rev. Lett. 2000, 84, 374.
34. Feulner, P.; Romberg, R.; Frigo, S. P.; Weimar, R.; Gsell,' M.; Ogurtsov, A.; Menzel, D. Surf. Sei. 2000, 451, 41.
35. Mase, K.; Tanaka, S.; Nagaoka, S.; Urisu, T. Suif. Sei. 2000,451, 143.
36. Sekiguchi, T.; Ikeura-Sekiguchi, H.; Baba, Y. Suif. Sei. 2000,454-456, 363.
37. Molecular Electronic Devices; Carter, F. L., Ed.; Marcel Dekker: New York, 1982 and 1987; Vols. I and II.
38. Molecular Electronics; Jortner, J., Ratner, M., Eds.; Blackwell: Oxford, 1997.
39. Sigmund, E.; Gribi, P.; Isenmann, G. Appl. Surf. Sei. 1993, 65/66, 342.
40. Sekitani, T.; Ikenaga, E.; Fujii, K.; Mase, K.; Ueno, N.; Tanaka, K. J. Electron Spectrosc. Relat. Phenom. 1999, 101-103, 135.
41. Yoshinobu, J.; Tanaka, S.; Nishijima, M. Appl. Pliys. (Tokyo) 1991, 60, 1196.
42. Yoshinobu, J.; Tanaka, S.; Nishijima, M. Jpn. J. Appl. Phys. 1993, 32, 1171.
43. Mase, K.; Tanaka, S. Jpn. J. Appl. Pliys.. Suppl. 1999, 38, 233.
44. Tanaka, S.; Takahashi, N.; Lee, K.-P.; Kamada, M. J. Electron Spectrosc. Relat. Phenom. 1996, 50, 205.
45. Frisch, M. J.; Trucks, G. W.; Schlegel, H. .B.; Gill, P. M. W.; Johnson, B. G.; Robb, M. A.; Cheeseman, J. R.; Keith, T.; Petersson, G. A.; Montgomery, J. A.; Raghavachari, K.; Al-Laham, M. A.; Zakrzewski, V. G.; Ortiz, J. V.; Foresman, J. B.; Cioslowski, J.; Stefanov, B. B.; Nanayakkara, A.; Challacombe, M.; Peng, C. Y.; Ayala, P. Y.; Chen, W.; Wong, M. W.; Andres, J. L.; Replogle, E. S.; Gomperts, R.; Martin, R. L.; Fox, D. J.; Binkley, J. S.; Defrees, D. J.; Baker, J.; Stewart, J. P.; Head-Gordon, M.; Gonzalez, C.; Pople, J. A. Gaiissian 94, Revision C.3; Gaussian, Inc.: Pittsburgh, 1995.
46. Hehre, W. J.; Radom, L.; Schleyer, P. v. R.; Pople, J. A. Ab Initia Molecular Orbital Theory; John Wiley & Sons: New York, 1986.
47. Callomon, J. H.; Hirota, E.; Kuchitsu, K.; Lafferty, W. J.; Maki, A: G.; Pole, C. S. In Landort-Bömstein; Hellwege, K.-H., Hellwege, A. M., Eds.; Springer-Verlaa: Berlin, 1976; Vol. 7, p 175.
48. Hitchcock, A. P^Phys. Scr. 1990, 737, 159.
49. Wagner, C. D.; Riggs, W. M.; Davis, L. E.; Moulder, J. F.; Muilenberg, G. E. Handbook of X-ray Photoelectron Spectroscopy; Perkin-Elmer: Eden Prairie, MN, 1979.
50. Davis, L. E.; MacDonald, N. C.; Palmberg, P. W.; Riach, G. E.; Weber, R. E. Handbook of Auger Electron Speclroscopy, 2nd ed.; Physical Electronics Industries: Eden Prairie, MN, 1976.
51. Simmie, J. M.; Tschuikow-Roux, E. Int. J. Mass Spectrom. Ion Phys. 1971, 7, 41.
52. Berkowitz, J. Photoabsorption, Pliotoionization, and Photoelectron Spectroscopy; Academic Press: New York, 1979.
53. Menzel, D.; Gomer, R. J. Chem. Phys. 1964, 41, 3311.
54. Redhead, P. A. Can. J. Phys. 1964, 42, 886.
55. Eberhard!, W.; Plummer, E. W.; Lyo, I.-W.; Reininger, R.; Carr, R.; Ford, W. K.; Sondericker, D. Anst. J. Phys. 1986, 39, 633.
56. .(56) Eberhard!, W.; Plummer, E. W.; Chen, C. T.; Carr, R.; Ford, W. K. Nucl. Instrum. Methods Phys. Res., Sect. A 1986, 246, 825.
57. Stöhr, J. NEXAFS Spectroscopy, Springer-Verlag: Berlin, 1996; pp 118-133.
58. Armen, G. B.; Akseja, H.; Åberg, T.; Aksela, S. J. Phys. B: At. Mol. Opt. Phys. 2000, 33, R49.
59. Mase, K.; Nagasono, M.; Tanaka, S.; Urisu, T.; Ikenaga, E.; Sekitani, T.; Tanaka, K. Surf. Sei. 1997, 590, 97.
60. Nagasono, M.; Mase, K.; Tanaka, S.; Urisu, T. Surf. Sei. 1997, 390, 102.
61. Heller, S. R.; Milne, G. W. A. EPA/N1H Mass Spectral Data Base; U.S. Government Printing Office: Washington, DC, 1978; Vol. 1.
62. Sekiguchi, T.; Baba, Y. Surf. Sei. 1999, 433-435, 849.
63. Sekiguchi, T.; Baba, Y. J. Jpn. Soc. Synchrotron Radiat. Res. 2000, 13, 147.