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Volumn , Issue 1, 2001, Pages 30-

CVD technologies used in preparation of low dielectric constant materials for ULSI

(5)  Wang, P F a   Ding, S J a   Zhang, W a   Wang, J T a   Li, W a  

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EID: 0035265088     PISSN: 10038213     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: None     Document Type: Article
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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.