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Volumn 20, Issue 1, 2001, Pages 11-19

Potentiometry at trace levels

Author keywords

Ion selective electrode; Lower detection limit; Speciation; Trace level analysis

Indexed keywords

TRACE ELEMENT;

EID: 0035172561     PISSN: 01659936     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1016/S0165-9936(00)00056-X     Document Type: Review
Times cited : (134)

References (35)


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.