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Volumn 26, Issue 1, 2001, Pages 27-31

The concept of sensitivity in sediment yield modelling

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INTERRILL EROSION; NUMERICAL MODEL; PARAMETERIZATION; SEDIMENT YIELD;

EID: 0035110661     PISSN: 14641909     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1016/S1464-1909(01)85010-3     Document Type: Article
Times cited : (14)

References (14)
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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.