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Volumn 626, Issue , 2001, Pages

Effectivity of standby-energy reduction techniques for deep sub-micron CMOS

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GLOBAL SYSTEM FOR MOBILE COMMUNICATIONS; LEAKAGE CURRENTS; THRESHOLD VOLTAGE; TRANSISTORS;

EID: 0035026155     PISSN: 02729172     EISSN: None     Source Type: Conference Proceeding    
DOI: None     Document Type: Conference Paper
Times cited : (3)

References (7)
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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.