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Volumn 2, Issue , 2001, Pages 950-954

Dual-mode digital revolution counter

Author keywords

Resolution; Revolution counter; Revolution measurement

Indexed keywords

MEASUREMENT ERRORS; MECHANICAL VARIABLES MEASUREMENT; MICROCONTROLLERS; OPTIMIZATION; PARAMETER ESTIMATION;

EID: 0034827326     PISSN: None     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1109/IMTC.2001.928219     Document Type: Article
Times cited : (5)

References (3)
  • 3
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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.