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Volumn 56, Issue 4, 2000, Pages 403-413

XPS and SIMS characterization

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Characterization; Oxide catalysts; SIMS; XPS

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EID: 0034643168     PISSN: 09205861     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1016/S0920-5861(99)00300-4     Document Type: Article
Times cited : (90)

References (10)


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.