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Volumn 3, Issue , 2000, Pages 1492-1495

Artificial loss in FDTD predictions of high-Q cavities

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ARTIFICIAL LOSS; DISCRETIZATION; ELECTRIC FIELD SHIELDING; FINITE DIFFERENCE TIME DOMAIN METHOD; PULSE EXCITATION;

EID: 0034539169     PISSN: 02724693     EISSN: None     Source Type: Conference Proceeding    
DOI: None     Document Type: Conference Paper
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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.