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Volumn 172, Issue 11, 2000, Pages 940-945

Radiation exposure in full-field digital mammography with a flat-panel x-ray detector based on amorphous silicon in comparison with conventional screen-film mammography;Strahlenexposition bei der digitalen Vollfeldmammographie mit einem Flachdetektor aus amorphem Silizium im Vergleich zur konventionellen Film-Folien-Mammographie

Author keywords

Digital mammography; Flat panel detector; Image quality; Mammography; Radiation exposure

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SILICON DERIVATIVE;

EID: 0034534482     PISSN: 09366652     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: None     Document Type: Article
Times cited : (18)

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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.