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Volumn 62, Issue 22, 2000, Pages 14790-14795

Temperature-dependent Raman scattering studies in nanocrystalline silicon and finite-size effects

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SILICON;

EID: 0034452084     PISSN: 01631829     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1103/PhysRevB.62.14790     Document Type: Article
Times cited : (89)

References (24)


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.