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Volumn , Issue 465, 2000, Pages 399-401

Small SPT unit development and tests

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EID: 0034444612     PISSN: 03796566     EISSN: None     Source Type: Conference Proceeding    
DOI: None     Document Type: Conference Paper
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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.