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Volumn 2, Issue , 2000, Pages 1464-1471

Simulation based cause and effect analysis of cycle time distribution in semiconductor backend

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HEURISTIC METHODS; MATERIALS HANDLING; MATHEMATICAL MODELS;

EID: 0034429115     PISSN: 02750708     EISSN: None     Source Type: Conference Proceeding    
DOI: None     Document Type: Conference Paper
Times cited : (6)

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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.