Effects of the structural parameters including surface roughness, on the properties of Co/Pt multilayered films

Journal of the Korean Physical Society

Volumn 36, Issue 1, 2000, Pages 54-59

  Lee, B J ^a   Lee, Y P ^b   Jeong, J I ^c   Koo, Y M ^d  

^a SAMSUNG Electronics   (South Korea)

^b SunMoon University   (South Korea)

^c Research Institute of Industrial Science and Technology (RIST)   (South Korea)

^d Pohang University of Science and Technology (POSTECH)   (South Korea)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

EID: 0034344991     PISSN: 03744884     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: None     Document Type: Article

References (25)

1. M. H. Kryder, J. Magn. Magn. Mater. 83, 1 (1990).
2. W. B. Zeper, H. W. van Kesteren, B. A. J. Jacobs, J. H. M. Spurit and P. F. Carcia, J. Appl. Phys. 70, 2264 (1991).
3. P. F. Carcia, A. D. Meinhaldt and A. Suna, Appl. Phys. Lett. 47, 178 (1985).
4. S. Hashimoto, Y. Ochiai and K. Aso, J. Appl. Phys. 67, 2136 (1990).
5. F. J. A. den Broeder, H. C. Donkersllot, H. J. G. Draaissma and W. J. M. de Jonge, J. Appl. Phys. 61, 4317 (1987).
6. S. Tsunashima, M. Hasegawa, K. Nakamura and S. Uchiyama, J. Magn. Magn. Mater. 93, 465 (1991).
7. C. J. Lin, G. L. Gorman, C. H. Lee, R. F. C. Farrow, E. E. Marinero, H. V. Do, H. Notarys and C. J. Chien, J. Magn. Magn. Mater. 93, 194 (1991).
8. S. Hashimoto and Y. Ochiai, J. Magn. Magn. Mater. 88, 211 (1990).
9. B. Zhang, K. M. Krishnan, C. H. Lee and R. F. C. Farrow, J. Appl. Phys. 73, 6198 (1993).
10. A. Yamaguchi, S. Ogu, W. H. Soe and R. Yamamoto, Appl. Phys. Lett. 62, 1020 (1993).
11. Z. G. Li, P. F. Carcia and Y. Cheng, J. Appl. Phys. 73, 2433 (1993).
12. C. J. Chien, R. F. C. Farrow, C. H. Lee, C. J. Lin and E. E. Marinero, J. Magn. Magn. Mater. 93, 47 (1991).
13. B. N. Engel, M. H. Wiedmann and C. M. Falco, J. Appl. Phys. 75, 6041 (1994).
14. C. H. Lee, R. F. C. Farrow, C. J. Lin, E. E. Marinero and C. J. Chien, Phys. Rev. B42, 11384 (1990).
15. S. K. Kim, J. S. Kang, J. I. Jeong, J. H. Hong, Y. M. Koo, H. J. Shin and Y. P. Lee, J. Appl. Phys. 72, 4986 (1992).
16. Y. V. Kudryavtsev, K. W. Kim, Y. P. Lee and V. V. Nemoshkalenko, J. Korean Phys. Soc. 32, 77 (1998).
17. Y. V. Kudryavtsev, K. W. Kim and Y. P. Lee, J. Korean Phys. Soc. 32, 571 (1998).
18. D. E. Savage, J. Kleiner, N. Schimke, Y. H. Phang, T. Jankowski, J. Jacobs, R. Kariotis and M. G. Lagally, J. Appl. Phys. 69, 1411 (1991).
19. J. B. Kortright, J. Appl. Phys. 70, 3620 (1991).
20. H. R. Zhai, M. Lu, Y. Z. Miao, Y. B. Xu, S. M. Zhou, H. Wang, J. W. Cai, B. X. Gu, S. L. Zhang and H. Y. Zhang, J. Magn. Magn. Mater. 115, 20 (1992).
21. L. Y. Chen, W. A. McGahan, Z. S. Shan, D. J. Sellmyer and J. A. Woollam, J. Appl. Phys. 67, 7547 (1990).
22. K. H. J. Buschow, P. G. van Engen and R. Rongebreur, J. Magn. Magn. Mater. 38, 1 (1983).
23. J. J. Wysloki, J. Magn. Magn. Mater. 58, 313 (1986).
24. J. A. Bain, B. M. Clemens, H. Notarys, E. E. Marinero and S. Brennan, J. Appl. Phys. 72, 996 (1993).
25. S. J. Greaves, A. K. Petford-Long, Y. H. Kim, R. J. Rollard, P. J. Grundy and J. P. Jakubovics, J. Magn. Magn. Mater. 113, 63 (1992).