Crosscorrelation measurements of ultrashort visible pulses: Comparison between nonlinear crystals and SiC photodiodes

Optics Communications

Volumn 184, Issue 1, 2000, Pages 321-328

  Lochbrunner, S ^a   Huppmann, P ^a   Riedle, E ^a  

^a UNIVERSITY OF MUNICH   (Germany)

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BANDWIDTH; CRYSTALS; LASER PULSES; LASER TUNING; OPTICAL CORRELATION; PHOTOCONDUCTIVITY; PHOTODIODES; PHOTONS; SILICON CARBIDE; ULTRAFAST PHENOMENA;

CROSSCORRELATION MEASUREMENTS; NONLINEAR CRYSTALS; ULTRASHORT VISIBLE PULSES;

INTEGRATED OPTOELECTRONICS;

EID: 0034298637     PISSN: 00304018     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1016/S0030-4018(00)00947-0     Document Type: Article

References (31)

1. Baltuška A., Wei Z., Pshenichnikov M.S., Wiersma D.A., Szipöcs R. Appl. Phys. B. 65:1997;175-188.
2. Nisoli M., Stagira S., De Silvestri S., Svelto O., Sartania S., Cheng Z., Lenzner M., Spielmann Ch., Krausz F. Appl. Phys. B. 65:1997;189-196.
3. Wilhelm T., Piel J., Riedle E. Opt. Lett. 22:1997;1494-1496.
4. S. Lochbrunner, T. Wilhelm, J. Piel, P. Huppmann, S. Spörlein, E. Riedle, in: T. Elsaesser, J.G. Fujimoto, D.A. Wiersma, W. Zinth, (Eds.), Ultrafast Phenomena XI, Springer-Verlag, Berlin, 1998, pp. 57-59.
5. Cerullo G., Nisoli M., Stagira S., De Silvestri S. Opt. Lett. 23:1998;1283-1285.
6. Shirakawa A., Sakane I., Kobayashi T. Opt. Lett. 23:1998;1292-1294.
7. Baltuška A., Pshenichnikov M.S., Wiersma D.A. Opt. Lett. 23:1998;1474-1476.
8. Cheng Z., Fürbach A., Sartania S., Lenzner M., Spielmann Ch., Krausz F. Opt. Lett. 24:1999;247-249.
9. Gallmann L., Sutter D.H., Matuschek N., Steinmeyer G., Keller U. Appl. Phys. B. 70:2000;S67-S75.
10. DeLong K.W., Trebino R., Kane D.J. J. Opt. Soc. Am. B. 11:1994;1595-1608.
11. DeLong K.W., Fittinghoff D.N., Trebino R. IEEE J. Quant. Electron. QE-32:1996;1253-1264.
12. Ishida Y., Yajima T. Opt. Commun. 62:1987;197-200.
13. Edelstein D.C., Wachman E.S., Cheng L.K., Bosenberg W.R., Tang C.L. Appl. Phys. Lett. 52:1988;2211-2213.
14. Steinbach D., Hügel W., Wegener M. J. Opt. Soc. Am. B. 15:1998;1231-1234.
15. Yankelevich D.R., Prêtre P., Knoesen A., Taft G., Murnane M.M., Kapteyn H.C., Twieg R.J. Opt. Lett. 21:1996;1487-1489.
16. Reid D.T., Padgett M., McGowan C., Sleat W.E., Sibbett W. Opt. Lett. 22:1997;233-235.
17. Reid D.T., Sibbett W., Dudley J.M., Barry L.P., Thomsen B., Harvey J.D. Appl. Opt. 37:1998;8142-8144.
18. Ranka J.K., Gaeta A.L., Baltuska A., Pshenichnikov M.S., Wiersma D.A. Opt. Lett. 22:1997;1344-1346.
19. Feurer T., Glass A., Sauerbrey R. Appl. Phys. B. 65:1997;295-297.
20. Streltsov A.M., Moll K.D., Gaeta A.L., Kung P., Walker D., Razeghi M. Appl. Phys. Lett. 75:1999;3778-3780.
21. Langlois P., Ippen E.P. Optics Lett. 24:1999;1868-1870.
22. Weiner A.M. IEEE J. Quant. Electron. QE-19:1983;1276-1283.
23. Boscheron A.C.L., Sauteret C.J., Migus A. J. Opt. Soc. Am. B. 13:1996;818-826.
24. Raoult F., Boscheron A.C.L., Husson D., Sauteret C., Modena A., Malka V., Dorchies F., Migus A. Opt. Lett. 23:1998;1117-1119.
25. Schade W., Osborn D.L., Preusser J., Leone S.R. Opt. Commun. 150:1998;27-32.
26. Noh Y.-C., Lee J.-H., Chang J.-S., Lim Y.-S., Park J.-D. J. Opt. Soc. Korea. 3:1999;27-31.
27. Seel M., Wildermuth E., Zinth W. Meas. Sci. Technol. 8:1997;449-452.
28. Ippen E.P., Shank C.V. Appl. Phys. Lett. 27:1975;488-490.
29. Schade W., Preusser J., Osborn D.L., Yu Lee Y., deGouw J., Leone S.R. Opt. Commun. 162:1999;200-204.
30. Kato K. IEEE J. Quant. Electron. QE-22:1986;1013-1014.
31. Linden S., Kuhl J., Giessen H. Opt. Lett. 24:1999;569-571.