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Volumn 19, Issue 9, 2000, Pages 999-1010

Crosstalk-driven interconnect optimization by simultaneous gate and wire sizing

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DEEP SUBMICROMETERS; NOISE MINIMIZATION;

EID: 0034259185     PISSN: 02780070     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1109/43.863640     Document Type: Article
Times cited : (52)

References (27)
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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.