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Volumn 182, Issue 4, 2000, Pages 289-304

Graded index lens characterization and the diffraction limits

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ELECTROMAGNETIC WAVE DIFFRACTION; OPTICAL INSTRUMENT LENSES; REFRACTIVE INDEX; WAVEFRONTS;

EID: 0034250176     PISSN: 00304018     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1016/S0030-4018(00)00844-0     Document Type: Article
Times cited : (4)

References (2)
  • 1
    • 0343417282 scopus 로고
    • Mesures de surface asphériques, sphériques et planes par déflectométrie à détection de phase
    • ESI publications, Paris
    • E. Durand, J.M. Bacchus, Mesures de surface asphériques, sphériques et planes par déflectométrie à détection de phase, OPTO 92, ESI publications, Paris, 1992, pp. 283-287.
    • (1992) OPTO , vol.92 , pp. 283-287
    • Durand, E.1    Bacchus, J.M.2


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.