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Volumn 27, Issue 8, 2000, Pages 709-713

Thermal stress damage of semiconductors induced by laser beam

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IRRADIATION; RADIATION DAMAGE; RADIATION EFFECTS; SEMICONDUCTOR MATERIALS; THERMAL EFFECTS; THERMAL STRESS;

EID: 0034240103     PISSN: 02587025     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: None     Document Type: Article
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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.