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IBM Journal of Research and Development

Volumn 44, Issue 4, 2000, Pages 503-516

Low-energy electron microscopy

(1) Tromp, Rudolf M a

a IBM T J WATSON RESEARCH CENTER (United States)

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IMAGE ANALYSIS; IMAGE QUALITY; INTERFACES (MATERIALS);

LOW-ENERGY ELECTRON MICROSCOPY (LEEM);

ELECTRON MICROSCOPY;

EID: 0034227533 PISSN: 00188646 EISSN: None Source Type: Journal
DOI: 10.1147/rd.444.0503 Document Type: Article

Times cited : (55)

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