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Volumn 9, Issue 3, 2000, Pages 28-X1

3-D stacked wafer-level packaging

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CRYSTAL LATTICES; HEAT RESISTANCE; MULTICHIP MODULES; PLASMA ETCHING; SILICON WAFERS; THERMAL CONDUCTIVITY; THERMAL EXPANSION; THICKNESS CONTROL; WSI CIRCUITS;

EID: 0034149013     PISSN: 10650555     EISSN: None     Source Type: Trade Journal    
DOI: None     Document Type: Article
Times cited : (21)

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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.