-
1
-
-
0001488206
-
-
(a) Rubin, Y.; Khan, S.; Freedberg, D. I.; Yeretzian, C. J. Am. Chem. Soc. 1993, 115, 344.
-
(1993)
J. Am. Chem. Soc.
, vol.115
, pp. 344
-
-
Rubin, Y.1
Khan, S.2
Freedberg, D.I.3
Yeretzian, C.4
-
3
-
-
0026153813
-
-
(a) Gildenblat, G. S.; Grot, S. A.; Badzian, A. Proc. IEEE 1991, 79, 647.
-
(1991)
Proc. IEEE
, vol.79
, pp. 647
-
-
Gildenblat, G.S.1
Grot, S.A.2
Badzian, A.3
-
8
-
-
0030662446
-
-
(a) Teplyakov, A. V.; Kong, M. J.; Bent, S. F. J. Am. Chem. Soc. 1997, 119, 11100.
-
(1997)
J. Am. Chem. Soc.
, vol.119
, pp. 11100
-
-
Teplyakov, A.V.1
Kong, M.J.2
Bent, S.F.3
-
9
-
-
0001751468
-
-
(b) Hovis, J. S.; Liu, H. B.; Hamers, R. J. J. Phys. Chem. B 1998, 102, 6873.
-
(1998)
J. Phys. Chem. B
, vol.102
, pp. 6873
-
-
Hovis, J.S.1
Liu, H.B.2
Hamers, R.J.3
-
10
-
-
0000103895
-
-
(c) Wang, G. T.; Mui, C.; Musgrave, C. B.; Bent, S. F. J. Phys. Chem. B 1999, 103, 6803.
-
(1999)
J. Phys. Chem. B
, vol.103
, pp. 6803
-
-
Wang, G.T.1
Mui, C.2
Musgrave, C.B.3
Bent, S.F.4
-
11
-
-
0032578153
-
-
(a) Teplyakov, A. V.; Lal, P.; Noah, Y. A.; Bent, S. F. J. Am. Chem. Soc. 1998, 120, 7377.
-
(1998)
J. Am. Chem. Soc.
, vol.120
, pp. 7377
-
-
Teplyakov, A.V.1
Lal, P.2
Noah, Y.A.3
Bent, S.F.4
-
12
-
-
0032138432
-
-
(b) Lee, S. W.; Nelen, L. N.; Ihm, H.; Scoggins, T.; Greenlief, C. M. Surf. Sci. 1998, 410, L773.
-
(1998)
Surf. Sci.
, vol.410
-
-
Lee, S.W.1
Nelen, L.N.2
Ihm, H.3
Scoggins, T.4
Greenlief, C.M.5
-
13
-
-
85025769901
-
-
(a) Nishijima, M.; Yoshinobu, J.; Tsuda, H.; Onchi, M. Surf. Sci. 1987, 192, 383.
-
(1987)
Surf. Sci.
, vol.192
, pp. 383
-
-
Nishijima, M.1
Yoshinobu, J.2
Tsuda, H.3
Onchi, M.4
-
14
-
-
33744712058
-
-
(b) Cheng, C. C.; Wallace, R. M.; Taylor, P. A.; Choyke, W. J.; Yates, J. T. J. Appl. Phys. 1990, 67, 3693.
-
(1990)
J. Appl. Phys.
, vol.67
, pp. 3693
-
-
Cheng, C.C.1
Wallace, R.M.2
Taylor, P.A.3
Choyke, W.J.4
Yates, J.T.5
-
15
-
-
0000858327
-
-
(c) Hovis, J. S.; Lee, S.; Liu, H. B.; Hamers, R. J. J. Vac. Sci. Technol. B 1997, 15, 1153.
-
(1997)
J. Vac. Sci. Technol. B
, vol.15
, pp. 1153
-
-
Hovis, J.S.1
Lee, S.2
Liu, H.B.3
Hamers, R.J.4
-
16
-
-
0343525234
-
-
In press
-
(d) Kong, M. J.; Teplyakov, A. V.; Jagmohan, J.; Lyubovitsky, J. G.; Mui, C.; Bent, S. F. J. Phys. Chem. In press.
-
J. Phys. Chem.
-
-
Kong, M.J.1
Teplyakov, A.V.2
Jagmohan, J.3
Lyubovitsky, J.G.4
Mui, C.5
Bent, S.F.6
-
17
-
-
0001291183
-
-
(a) Lal, P.; Teplyakov, A. V.; Noah, Y.; Kong, M. J.; Wang, G. T.; Bent, S. F. J. Chem. Phys. 1999, 110, 10545.
-
(1999)
J. Chem. Phys.
, vol.110
, pp. 10545
-
-
Lal, P.1
Teplyakov, A.V.2
Noah, Y.3
Kong, M.J.4
Wang, G.T.5
Bent, S.F.6
-
18
-
-
0032594556
-
-
(b) Hamers, R. J.; Hovis, J. S.; Greenlief, C. M.; Padowitz, D. F. Jpn. J. Appl. Phys. 1999, 38, 3879.
-
(1999)
Jpn. J. Appl. Phys.
, vol.38
, pp. 3879
-
-
Hamers, R.J.1
Hovis, J.S.2
Greenlief, C.M.3
Padowitz, D.F.4
-
19
-
-
0001063377
-
-
Kim, C. S.; Mowrey, R. C.; Butler, J. E.; Russell, J. N. J. Phys. Chem. B 1998, 102, 9290.
-
(1998)
J. Phys. Chem. B
, vol.102
, pp. 9290
-
-
Kim, C.S.1
Mowrey, R.C.2
Butler, J.E.3
Russell, J.N.4
-
21
-
-
21544480870
-
-
Thorns, B. D.; Owens, M. S.; Butler, J. E.; Spiro, C. Appl. Phys. Lett. 1994, 65, 2957.
-
(1994)
Appl. Phys. Lett.
, vol.65
, pp. 2957
-
-
Thorns, B.D.1
Owens, M.S.2
Butler, J.E.3
Spiro, C.4
-
22
-
-
84940376259
-
-
Thomas, R. E.; Rudder, R. A.; Markunas, R. J. J. Vac. Sci. Technol. A 1992, 10, 2451.
-
(1992)
J. Vac. Sci. Technol. A
, vol.10
, pp. 2451
-
-
Thomas, R.E.1
Rudder, R.A.2
Markunas, R.J.3
-
23
-
-
0001155890
-
-
(a) Yang, Y. L.; Struck, L. M.; Sutcu, L. F.; D'Evelyn, M. P. Thin Solid Films 1993, 225, 203-211.
-
(1993)
Thin Solid Films
, vol.225
, pp. 203-211
-
-
Yang, Y.L.1
Struck, L.M.2
Sutcu, L.F.3
D'Evelyn, M.P.4
-
24
-
-
0001119416
-
-
(b) McGonigal, M.; Russell, J. N.; Pehrsson, P. E.; Maguire, H. G.; Butler, J. E. J. Appl. Phys. 1995, 77, 4049-4053.
-
(1995)
J. Appl. Phys.
, vol.77
, pp. 4049-4053
-
-
McGonigal, M.1
Russell, J.N.2
Pehrsson, P.E.3
Maguire, H.G.4
Butler, J.E.5
-
25
-
-
0343525231
-
-
To be published
-
Russell, J. N., et al. To be published.
-
-
-
Russell, J.N.1
-
26
-
-
33751385543
-
-
(a) Nachtigall, P.; Jordan, K. D.; Sosa, C. J. Phys. Chem. 1993, 97, 11666.
-
(1993)
J. Phys. Chem.
, vol.97
, pp. 11666
-
-
Nachtigall, P.1
Jordan, K.D.2
Sosa, C.3
-
28
-
-
8444243675
-
-
(c) Develyn, M. P.; Yang, Y. M. L.; Sutcu, L. F. J. Chem. Phys. 1992, 96, 852.
-
(1992)
J. Chem. Phys.
, vol.96
, pp. 852
-
-
Develyn, M.P.1
Yang, Y.M.L.2
Sutcu, L.F.3
-
29
-
-
25544452706
-
-
(d) Hofer, U.; Li, L. P.; Heinz, T. F. Phys. Rev. B 1992, 45, 9485.
-
(1992)
Phys. Rev. B
, vol.45
, pp. 9485
-
-
Hofer, U.1
Li, L.P.2
Heinz, T.F.3
-
30
-
-
0000723935
-
-
(e) Flowers, M. C.; Jonathan, N. B. H.; Liu, Y.; Morris, A. J. Chem. Phys. 1993, 99, 7038.
-
(1993)
J. Chem. Phys.
, vol.99
, pp. 7038
-
-
Flowers, M.C.1
Jonathan, N.B.H.2
Liu, Y.3
Morris, A.4
-
31
-
-
0343961023
-
-
note
-
We note, that the C(100) and Si(100) studies were done in different vacuum systems, precluding precise quantification of the relative reactivities.
-
-
-
-
32
-
-
0001027403
-
-
Hukka, T. I.; Pakkanen, T. A.; Develyn, M. P. J. Phys. Chem. 1994, 98, 12420.
-
(1994)
J. Phys. Chem.
, vol.98
, pp. 12420
-
-
Hukka, T.I.1
Pakkanen, T.A.2
Develyn, M.P.3
-
33
-
-
0001171777
-
-
(a) Lespade, L.; Rodin, S.; Cavagnat, D.; Abbate, S. J. Phys. Chem. 1993, 97, 6134.
-
(1993)
J. Phys. Chem.
, vol.97
, pp. 6134
-
-
Lespade, L.1
Rodin, S.2
Cavagnat, D.3
Abbate, S.4
-
34
-
-
0032565094
-
-
(b) Slebockatilk, H.; Neverov, A.; Motallebi, S.; Brown, R. S.; Donini, O.; Gainsforth, J. L. J. Am. Chem. Soc. 1998, 120, 2578.
-
(1998)
J. Am. Chem. Soc.
, vol.120
, pp. 2578
-
-
Slebockatilk, H.1
Neverov, A.2
Motallebi, S.3
Brown, R.S.4
Donini, O.5
Gainsforth, J.L.6
|