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Volumn , Issue , 2000, Pages 217-

Mutation testing applied to Estelle specifications

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COMPUTER ARCHITECTURE; COST EFFECTIVENESS; DESIGN FOR TESTABILITY; ERROR CORRECTION; NETWORK PROTOCOLS;

EID: 0033870981     PISSN: 10603425     EISSN: None     Source Type: Conference Proceeding    
DOI: None     Document Type: Conference Paper
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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.