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Volumn , Issue , 2000, Pages 7-12

CMOS system-on-a-chip voltage scaling beyond 50 nm

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CAPACITANCE; CELLULAR ARRAYS; INTEGRATED CIRCUIT LAYOUT; LEAKAGE CURRENTS; MOSFET DEVICES; SEMICONDUCTOR DEVICE MODELS; THRESHOLD VOLTAGE;

EID: 0033726788     PISSN: 10661395     EISSN: None     Source Type: Conference Proceeding    
DOI: 10.1145/330855.332574     Document Type: Conference Paper
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References (19)
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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.