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Volumn 4, Issue , 2000, Pages

Floating-gate techniques for assessing mismatch

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ELECTRIC NETWORK ANALYSIS; GATES (TRANSISTOR); MOS CAPACITORS;

EID: 0033719764     PISSN: 02714310     EISSN: None     Source Type: Conference Proceeding    
DOI: 10.1109/ISCAS.2000.858769     Document Type: Conference Paper
Times cited : (8)

References (10)
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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.