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Volumn 4006 (I), Issue , 2000, Pages 388-396

Metrology for phase-referenced imaging and narrow-angle astrometry with the VLTI

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AIRBORNE TELESCOPES; IMAGING SYSTEMS; INTERFEROMETRY; LASER APPLICATIONS;

EID: 0033699605     PISSN: 0277786X     EISSN: None     Source Type: Conference Proceeding    
DOI: 10.1117/12.390231     Document Type: Conference Paper
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References (8)
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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.