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Volumn 584, Issue , 2000, Pages 115-120

Systematic studies of fullerene derivative electron beam resists

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COATINGS; DISSOLUTION; ELECTRON BEAM LITHOGRAPHY; ELECTRON IRRADIATION; ORGANIC SOLVENTS;

EID: 0033693911     PISSN: 02729172     EISSN: None     Source Type: Conference Proceeding    
DOI: None     Document Type: Article
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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.