Application de la methodologie des plans d'experiences de Taguchi a l'analyse des relations entre parametres d'elaboration, microstructure et contraintes residuelles dans des depots electrolytiques de platine

Journal De Physique. IV : JP

Volumn 10, Issue 10, 2000, Pages 155-142

  Cleach, C ^b   Badawi, F ^a   Villain, J P ^a   Goudeau, P ^a   Ramade, C ^b   Malie, A ^b  

^a UNIVERSITÉ DE POITIERS   (France)

^b SNECMA   (France)

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CURRENT DENSITY; ELECTRODEPOSITION; ELECTROLYTES; PH EFFECTS; SUBSTRATES; SURFACE STRUCTURE; X RAY DIFFRACTION ANALYSIS;

TAGUCHI EXPERIMENT;

PLATINUM;

EID: 0033671690     PISSN: 11554339     EISSN: None     Source Type: Conference Proceeding    
DOI: 10.1051/jp4:20001017     Document Type: Article

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