Determination de contraintes residuelles en incidence rasante. Apport du rayonnement synchrotron

Journal De Physique. IV : JP

Volumn 10, Issue 10, 2000, Pages 103-113

  Sicardy, O ^a   Touet, I ^a   Rieutord, F ^a   Eymery, J ^a  

^a CEA GRENOBLE   (France)

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AUTOCLAVES; FILM GROWTH; GONIOMETERS; RESIDUAL STRESSES; SYNCHROTRON RADIATION; X RAY DIFFRACTION ANALYSIS; ZIRCONIA;

BRAGG REFLEXION; MULTITECHNIC GONIOMETERS;

THIN FILMS;

EID: 0033671049     PISSN: 11554339     EISSN: None     Source Type: Conference Proceeding    
DOI: 10.1051/jp4:20001012     Document Type: Article

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