Apport des techniques par rayons X a la caracterisation des encroutements cobaltiferes oceaniques

Journal De Physique. IV : JP

Volumn 10, Issue 10, 2000, Pages 363-374

  Etoubleau, J ^b   Bohn, M ^a   Fouquet, Y ^b   Cambon, P ^b   Le Suave R ^b  

^a CNRS   (France)

^b IFREMER   (France)

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CRYSTALLINE MATERIALS; FLUORESCENCE; GEOCHEMISTRY; METEORITES; MINERALOGY; PROBES; X RAY DIFFRACTION ANALYSIS;

ELECTRON MICROPROBES; FINE SCALE ANALYSIS; X RAY FLUORESCENCE;

MANGANESE COMPOUNDS;

EID: 0033666655     PISSN: 11554339     EISSN: None     Source Type: Conference Proceeding    
DOI: 10.1051/jp4:20001039     Document Type: Article

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