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Volumn , Issue , 2000, Pages 25-30

Robust ultra-low power sub-threshold DTMOS logic

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ENERGY UTILIZATION; INTEGRATED CIRCUIT LAYOUT; LEAKAGE CURRENTS; LOGIC CIRCUITS; MOS DEVICES; TRANSISTORS;

EID: 0033661304     PISSN: None     EISSN: None     Source Type: Conference Proceeding    
DOI: 10.1145/344166.344187     Document Type: Article
Times cited : (22)

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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.