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Volumn 1, Issue , 2000, Pages 241-244

Multi-view face detection using Support Vector Machines and eigenspace modelling

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COMPUTATIONAL METHODS; DATA STRUCTURES; EIGENVALUES AND EIGENFUNCTIONS; MATHEMATICAL MODELS; PARAMETER ESTIMATION; PATTERN RECOGNITION; PROBABILITY DISTRIBUTIONS;

EID: 0033653039     PISSN: None     EISSN: None     Source Type: Conference Proceeding    
DOI: None     Document Type: Article
Times cited : (27)

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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.