-
1
-
-
0001765591
-
-
B. Krebs, G. Henkel, Angew. Chem. 1991, 103, 785; Angew. Chem. Int. Ed. Engl. 1991, 30, 769.
-
(1991)
Angew. Chem.
, vol.103
, pp. 785
-
-
Krebs, B.1
Henkel, G.2
-
2
-
-
33746957704
-
-
B. Krebs, G. Henkel, Angew. Chem. 1991, 103, 785; Angew. Chem. Int. Ed. Engl. 1991, 30, 769.
-
(1991)
Angew. Chem. Int. Ed. Engl.
, vol.30
, pp. 769
-
-
-
3
-
-
0040615741
-
-
April, 181309 Einträge;
-
CSD Version 5.15 (April 1998, 181309 Einträge); F. H. Allen, O. Kennard, Chem. Des. Autom. News 1993, 8, 1 und 31.
-
(1998)
CSD Version 5.15
-
-
-
6
-
-
0001070027
-
-
b) R. A. Santos, E. S. Gruff, S. A. Koch, G. S. Harbison, J. Am. Chem. Soc. 1991, 113, 469.
-
(1991)
J. Am. Chem. Soc.
, vol.113
, pp. 469
-
-
Santos, R.A.1
Gruff, E.S.2
Koch, S.A.3
Harbison, G.S.4
-
7
-
-
0040615740
-
-
M. Bochmann, K. Webb, M. Harman, M. B. Hursthouse, Angew. Chem. 1990, 102, 703; Angew. Chem. Int. Ed. Engl. 1990, 29, 638.
-
(1990)
Angew. Chem.
, vol.102
, pp. 703
-
-
Bochmann, M.1
Webb, K.2
Harman, M.3
Hursthouse, M.B.4
-
8
-
-
33748244311
-
-
M. Bochmann, K. Webb, M. Harman, M. B. Hursthouse, Angew. Chem. 1990, 102, 703; Angew. Chem. Int. Ed. Engl. 1990, 29, 638.
-
(1990)
Angew. Chem. Int. Ed. Engl.
, vol.29
, pp. 638
-
-
-
9
-
-
0000441436
-
-
3-Koordinationseinheiten, jedoch a) gemischte Thiolat-Thiol-Koordination: K. Tang, X. Jin, A. Li, S. Li, Z. Li, Y. Tang, J. Coord. Chem. 1994, 31, 305;
-
(1994)
J. Coord. Chem.
, vol.31
, pp. 305
-
-
Tang, K.1
Jin, X.2
Li, A.3
Li, S.4
Li, Z.5
Tang, Y.6
-
11
-
-
0001545105
-
-
c) Silanthiolat-Koordination: W. Wojnowski, B. Becker, L. Walz, K. Peters, E.-M. Peters, H. G. von Schnering, Polyhedron 1992,11, 607.
-
(1992)
Polyhedron
, vol.11
, pp. 607
-
-
Wojnowski, W.1
Becker, B.2
Walz, L.3
Peters, K.4
Peters, E.-M.5
Von Schnering, H.G.6
-
12
-
-
0039430467
-
-
note
-
2, alle Daten); koordinierte und freie THF-Moleküle mit idealisierter Geometrie jeweils auf zwei Positionen fehlgeordnet verfeinert; alle nicht fehlgeordneten Nichtwasserstoffatome anisotrop verfeinert; alle H-Atome auf idealisierten Positionen; Rechenprogramme: [7, 8]. Weitere Einzelheiten zur Kristallstrukturuntersuchung können beim Fachinformationszentrum Karlsruhe, D-76344 Eggenstein-Leopoldshafen, unter Angabe der Hinterlegungsnummer CSD-410181 angefordert werden.
-
-
-
-
13
-
-
0004150157
-
-
Siemens Analytical X-ray Instruments Inc., Madison, WI, USA
-
G. M. Sheldrick, SHELXTL PLUS, Siemens Analytical X-ray Instruments Inc., Madison, WI, USA, 1990.
-
(1990)
SHELXTL PLUS
-
-
Sheldrick, G.M.1
-
16
-
-
33748917778
-
-
A. J. Edwards, A. Fallaize, P. R. Raithby, M.-A. Rennie, A. Steiner, K. L. Verhorevoort, D. S. Wright, J. Chem. Soc., Dalton Trans. 1996, 133.
-
(1996)
J. Chem. Soc., Dalton Trans.
, pp. 133
-
-
Edwards, A.J.1
Fallaize, A.2
Raithby, P.R.3
Rennie, M.-A.4
Steiner, A.5
Verhorevoort, K.L.6
Wright, D.S.7
-
18
-
-
0002015983
-
-
Zur a(bove),b(elow)-Nomenklatur siehe: D. D. MacNicol, P. R. Mallinson, C. D. Robertson, J. Chem. Soc., Chem. Commun. 1985, 1649.
-
(1985)
J. Chem. Soc., Chem. Commun.
, pp. 1649
-
-
MacNicol, D.D.1
Mallinson, P.R.2
Robertson, C.D.3
|