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Volumn 1, Issue , 1999, Pages 67-70

Novel concepts for high voltage junction termination techniques using very deep trenches

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ELECTRIC BREAKDOWN OF SOLIDS; NUMERICAL METHODS; SEMICONDUCTING SILICON;

EID: 0033348828     PISSN: None     EISSN: None     Source Type: Conference Proceeding    
DOI: None     Document Type: Article
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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.