Determination of the Avogadro constant by accurate measurement of the molar volume of a silicon crystal

Metrologia

Volumn 36, Issue 5, 1999, Pages 455-464

  Fujii, K ^a   Tanaka, M ^a   Nezu, Y ^a   Nakayama, K ^a   Fujimoto, H ^a   De Bievre P ^b   Valkiers, S ^b  

^a NATIONAL INSTITUTE OF ADVANCED INDUSTRIAL SCIENCE AND TECHNOLOGY AIST   (Japan)

^b JOINT RESEARCH CENTRE   (Italy)

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AVOGADRO CONSTANTS; MOLAR VOLUME MEASUREMENT; X RAY CRYSTAL DENSITY;

CRYSTAL IMPURITIES; DENSITY MEASUREMENT (SPECIFIC GRAVITY); INTERFEROMETERS; ISOTOPES; LATTICE CONSTANTS; SINGLE CRYSTALS; VOLUME MEASUREMENT; X RAY CRYSTALLOGRAPHY;

SILICON;

EID: 0033333694     PISSN: 00261394     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1088/0026-1394/36/5/7     Document Type: Article

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