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Volumn , Issue , 1999, Pages 285-294

Requirements volatility and defect density

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COMPUTER SOFTWARE SELECTION AND EVALUATION;

EID: 0033330387     PISSN: 10719458     EISSN: None     Source Type: Conference Proceeding    
DOI: None     Document Type: Conference Paper
Times cited : (55)

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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.