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Volumn 211, Issue 1, 1999, Pages 475-480

X-ray diffraction measurements in GaSb under high pressure and temperature

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EID: 0033249323     PISSN: 03701972     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1002/(SICI)1521-3951(199901)211:1<475::AID-PSSB475>3.0.CO;2-G     Document Type: Article
Times cited : (8)

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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.