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Volumn 211, Issue 1, 1999, Pages 461-467

High pressure and temperature x-ray diffraction studies on CdTe

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EID: 0033249321     PISSN: 03701972     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1002/(SICI)1521-3951(199901)211:1<461::AID-PSSB461>3.3.CO;2-R     Document Type: Article
Times cited : (22)

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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.