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Volumn 211, Issue 1, 1999, Pages 389-393

High pressure EXAFS on GaTe single crystal including polarization

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EID: 0033249307     PISSN: 03701972     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1002/(SICI)1521-3951(199901)211:1<389::AID-PSSB389>3.0.CO;2-0     Document Type: Article
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References (14)


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.